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超純水機產(chǎn)水用途:不同實驗項目對產(chǎn)水水質要求不盡相同,據(jù)此可以大致確定比較適合的機器型號;如用實驗室三級水的量比較大,用超純水的量較少,或者只用超純水之類的,具體描述使用情況詳細,選定對應型號,后期使用越方便成本越低。源水水質:根據(jù)源水類型確定機器所屬大類。根據(jù)源水硬度、泥沙懸浮物含量等指標確定是否需要另外選配預處理器;如自來水為水源或純水為水源,或自來水純水兩種水源皆可用。取水方式:工作期間是連續(xù)取水還是間歇式取水。對出水壓力或儲水桶、軟管等有否特殊要求;高峰期用水:取水高...
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隨著科技的不斷發(fā)展,現(xiàn)在超純水設備逐漸成為了各個行業(yè),不同領域必*幾種設備之一.超純水機是有許許多多不同的類型的,不同類型的超純水機使用范圍不同,水被提出來后可以維持的時間也是不同的.那么一般來講超純水機的水被提出來后可以維持的時間是多久呢?下面就讓我們一起來了解一下吧!1、在配制高純度的化學試劑的時候盡量不要讓超純水在桶里面存放,因為桶使用的時間長了就容易滋生細菌和雜質,造成對超純水的污染.2、取水時讓超純水隨著容器壁向容器內(nèi)流,盡量不產(chǎn)生氣泡,可以降低空氣對超純水的污染....
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Behr可編程紅外爐煙氣可被轉移到吸收液中進行進一步的分析(例如,離子色譜法,庫侖法)。此外,也可以轉移到在線分析(如紅外光譜)。BehrIRF10通過紅外輻射進行加熱。紅外線加熱器橢圓筒的一個焦點上,它的輻射被鍍金內(nèi)表面反射并聚焦在在圓筒第二個焦點上。樣品材料的底層是石英燃燒管。用戶可以將樣品通過由石英玻璃、陶瓷或其它惰性材料做的樣品傳輸器傳送到石英管中。溫度是由一個鎳鉻鎳熱電偶測定。它位于在缸窯內(nèi)部的石英燃燒管的外壁上。Behr可編程紅外爐特點:1.溫度高達1150°C2...
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耐酸加熱板采用微晶玻璃材質,微晶玻璃,又稱微晶玉石或陶瓷玻璃,由防火鋼化玻璃原材料,經(jīng)過高溫燒制而成,高硬度、耐腐蝕、抗壓、抗沖擊、不吸水、少沾塵、無輻射、密實均勻,且生產(chǎn)過程中無污染,產(chǎn)品本身無放射性污染,是一種新型的環(huán)保綠色材料。該產(chǎn)品用于大專院校、石油化工、醫(yī)藥、環(huán)保等實驗室液體加熱用。耐酸加熱板的工作原理:高頻的高頻大電流流向被繞制成環(huán)狀或其它形狀的加熱線圈(通常是用紫銅管制作)。由此在線圈內(nèi)產(chǎn)生極性瞬間變化的強磁束,將金屬等被加熱物體放置在線圈內(nèi),磁束就會貫通整個被...
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MBBM消磁系統(tǒng)一般由三個部分構成:三維探測器、三通道控制器和三個消磁線圈。三維探測器檢測空間磁場的三維立體場強及其變化(實際上只是三維探測器所在位置的一個很小區(qū)域);三通道控制器根據(jù)得到的信號進行實時PID跟蹤運算,并輸出三路連續(xù)跟蹤的反相消磁電流;三個消磁線圈相互垂直安裝,將需要消磁的空間區(qū)域包含在其中,產(chǎn)生波形和幅度相同、相位相反的電磁場將原來的電磁干擾抵消。必須指出的是,由于受到基本工作原理的限制,MBBM消磁系統(tǒng)的效果時常不盡如人意。從時域上來看,無論如何提高控制器...
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全自動汞分析儀是一種反應靈敏的點檢測儀,一般為在職業(yè)健康、安全和環(huán)境方面的工作人員使用。過濾管與PID結合消除了在使用變色性檢測管和氣相色譜檢測這些特種化合物時的不足。全自動汞分析儀使用于:煉油廠或化工廠檢修期間工作人員進入大型密閉的化學設備前的安全性檢查,對危險品的緊急反應及處理,海上測漏的檢測處理及煉油廠下游生產(chǎn)流程的檢測等。全自動汞分析儀優(yōu)勢:1、自動化操作:儀器可全自動操作,通過內(nèi)置的微處理器進行控制。分析開始后,自動進行測量并自動保存數(shù)據(jù)。標配的數(shù)據(jù)記錄器可將數(shù)據(jù)保...
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便攜式總烴分析儀適用于有組織排放和各種工業(yè)污染源的VOC監(jiān)測高強度抗腐蝕,抗干擾,測量精度高,響應快高溫分析儀和保溫加熱管線,保證樣品品質。便攜式總烴分析儀(非甲烷總烴分析儀)采用加熱式火焰離子化檢測器是測量總碳氫(THC,VOC,TOC,NMHC)的經(jīng)典方法,此方法的優(yōu)點是可以準確測量熱/濕態(tài)樣氣。采樣及分析全過程保持在高溫(191℃)狀態(tài)下,可以有效防止高分子量碳氫化合物在進樣管線中凝結而造成的碳氫損失。這種方法可持續(xù)檢測且響應時間快,使得報警狀態(tài)對儀器的監(jiān)測和實時報告很...
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實驗室在進行精密實驗或測量時,環(huán)境振動源的影響很容易成為一個問題。一些實驗可能由于輕微振動的影響而無法進行。例如,許多激光應用需要幾微米的光束腰;如果光斑的位置對系統(tǒng)性能十分關鍵,那么幾微米振幅的振動也會造成實驗的失敗。由于可見光的波長為次微米級,在振動存在的情況下,即使是次微米的振幅,也會造成基于干涉測量的實驗(包括全息攝影術)無法進行。半導體晶片的光學/機械加工或探測都要求類似的穩(wěn)定性。除了外部振動源的影響以外,如果實驗用到位移或振動部件,也常常需要把這些元件和其他振動敏...
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